Методы исследования структуры полупроводников и металлов
В.Т. Бублик, А.Н. Дубровина
В пособии изложена теория основных методов исследования (оптические, рентгенодифракционные, электронографические) структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов и эпитаксиальных пленок и устройств на их основе, а также металлических материалов. Рассмотрены области применения указанных методов исследования.
Catégories:
Année:
1978
Editeur::
Металлургия
Langue:
russian
Pages:
272
Fichier:
PDF, 18.04 MB
IPFS:
,
russian, 1978